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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。

PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。

SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn)，而且能夠兼容高真空環(huán)境，是掃描電鏡（SEM）的重要原位功能附件之一。通過更換不同的探針類型，如電學(xué)探針、光纖探針、納米鑷子、顯微注射器等，可以滿足各種實(shí)驗(yàn)需求，實(shí)現(xiàn)從納米材料操縱到生物細(xì)胞DNA操作等多種應(yīng)用。

PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。

PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺，基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。

PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術(shù)，溫度范圍：-160℃至80℃。