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PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內(nèi)實現(xiàn)對單個納米結構的精確操縱與電學測量。通過這一系統(tǒng)，研究人員不僅可以實時動態(tài)地觀察樣品的晶體結構、化學組分和元素價態(tài)的變化，還可以在多種外場環(huán)境下進行多維度的原位表征。
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